Ispitivanje uslova termičke obrade aluminijum oksidnih vlakana formiranih u električnom polju
- Трансмисиони (TEM), - рефлексиони (RЕМ), - скенирајући електронски микроскоп (SЕМ) и - скенирајући тунел микроскоп (SТМ). Скенирајући микроскопи користе се за изузетно прецизно одређивање површинске и просторне структуре материјала....
Tehnologija
Tehnološko-metalurški fakultet
47 stranica
Diplomski/master radovi, Skripte, Tehnologija
Objavio newld
·