Metalografija

Електронскиот микроскоп за скенирање (SEM) се користи за добивање на информации од површината на пробното парче, со помош на рефлектирани електрони.Со помош на SEM микроскопот се добиваат информации од топографијата,морфологијата,...

Hemija
10 stranica
Hemija, Seminarski radovi, Skripte
Objavio studenti.rs ·

Ispitivanje uslova termičke obrade aluminijum oksidnih vlakana formiranih u električnom polju

Оптичка микроскопија је једна од метода испитивања макроскопских детаља просторне структуре материјала. Са друге стране, коришћење таласних особина електрона у електронском микроскопу омогућује истраживање финих детаља структуре и до неколико...

Tehnologija
Tehnološko-metalurški fakultet
47 stranica
Diplomski/master radovi, Skripte, Tehnologija
Objavio newld ·

Metrologija

Мерење димензија објекта који се налази у видном пољу микроскопа се врши помоћу калибрисане кончанице микроскопа, а калибрација кончанице упоређивањем кончанице са еталоном. 31 МЕТРОЛОГИЈА 3.3.2. Електронска микроскопија Електронски микроскоп...

Fizika
Fizički fakultet
158 stranica
Fizika, Skripte
Objavio Daria126 ·

Prikazani su svi rezultati za ovaj upit.